NANDデバイスの不良調査例
| 業界 | 精密機器、家電・OA機器、携帯・通信機器 |
| アプリケーション | コピー、プリンタ、FAX、複合機など |
| デバイス | NAND |
| 目的・特徴 | カスタム対応、品質管理 |
| コメント | この書込みシステムは、お客様の検査部門で有効なNANDデバイスの品質確認のための不良ブロックの確認システムです。対象デバイスに対して、ERASE-PROGRAM-VERIFY(データは任意に設定可能）を繰り返し、途中で発生する後天的バッドブロックの監視などを行います。試験内容の変更(例：ERASEのみを繰り返す)、バッドブロックの発生位置・回数のカウントや、動作時の電源電圧を変えての試験など、お客様のご要求にあわせたアルゴリズム開発が可能です。 |
| 対応プログラマ | AF9711、AF9724、AF9725、AG9730、AG9730B、AG9731 |