メモリデバイスの不良調査例１
| 業界 | 車載機器、精密機器、家電・OA機器、携帯・通信機器、半導体装置、FA機器・産業機械、その他 |
| アプリケーション | ALL |
| デバイス | シリアルFLASH、マイコン |
| 目的・特徴 | カスタム対応、品質管理 |
| コメント | このシステムは、デバイスの耐久試験として任意のアドレス、任意データを繰り返し書込み、読出しするシステム（アルゴリズムソフトウエア）です。対象デバイスに対して、任意のアドレス、データを繰り返し書込み、読出しを行います。動作実行中に発生する、書込み時のエラー、読出しのデータ不一致等の監視を行い、デバイスの書込み耐久回数などの測定を行います。試験内容の変更(例えばベリファイのみを繰り返す)や、動作時の電源電圧を変えての試験など、お客様のご要求にあわせたアルゴリズム開発が可能です。 |
| 対応プログラマ | AF9101、AF9103、AF9201、AF9711、AF9724、AF9725、AG9730、AG9730B、AG9731 |